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    FT110A  台式XRF镀层测厚仪

    FT110A 台式XRF镀层测厚仪

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    高通量镀层分析

          FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合严苛标准。

          准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用,提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材,将全天候支持您的设施满足行业电镀规范。

    产品亮点

          专为高通量生产而设计,来看 FT110A 如何支持您的质量控制。

          ·强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果

          ·对成品安全的无损检测

          ·自动化功能提高生产力

          ·分析多达四层和基材,加上电镀液

          ·易于非专业操作员使用

          ·测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987

          ·大样品舱可容纳各种样品

          ·可定制的选项以适合您的应用

    型号

    FT110A

    元素范围

    Ti - U

    探测器

    正比计数器系统

    样品舱设计

    开闭式或开槽式

    准直器数量

    2 或 4

    最小准直器

    0.025 x 0.4 mm

    XY 轴样品台选择

    程控或固定

    XY 轴样品台行程

    250 x 200 mm

    程控 Z 轴行程

    150 mm

    最大样品尺寸

    500 x 400 x 150 mm

    样品聚焦

    聚焦激光和可选的自动聚焦

    样品视图

    摄像头视图和可选的第二广角摄像头

    测量点识别

    可选

    软件

    X-ray Station

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