热门搜索:德国布鲁克(Bruker  AXS):D2 PHASER X射线衍射仪 、D8  Advance  X射线衍射仪 
    首页 > 轮廓仪 > 光学轮廓仪NPFLEX3D
    光学轮廓仪NPFLEX3D

    光学轮廓仪NPFLEX3D

    马上咨询
    客服电话 4000966306 18922768881

    NPFLEX 三维表面测量系统

    针对大样品设计的非接触测试分析系统
    活测量大尺寸、特殊角度的样品
    高效的三维表面信息测量
    直方向亚纳米分辨率提供更多的细节
    快速获取测量数据,测试过程迅速高效

     

    NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量
    布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力,实现更快的测量时间,提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理,这套非接触系统提供的技术性能超出了传统的的接触式坐标测量仪(CMM)和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像,进行快速丰富的数据采集,帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验,NPFLEXTM是第一个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统,而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。

    其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度样品

    • 创新性的空间设计使得可测零件(样品)更大、形状更多
    • 开放式龙门、客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位


    高效的三维表面信息测量

    • 每次测量均可获得完整表面信息,并可用于多种分析目的
    • 更容易获得更多的测量数据来帮助分析


    垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节 

    • 干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率
    • 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据,为日渐苛刻的加工工艺提供保障


    测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效

    • 最少的样品准备时间和测量准备时间
    • 比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据
     
    为客户量身订做最合适的仪器配置
    
    NPFLEX在基本配置的基础上,还有很多备选的配件和配置方案,
    满足不同客户的测量需求:
     可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位,测量样品的侧壁、倾斜表面以及斜面边缘,重复性好。
    获得研发大奖的透过透明介质测量模块(Through Transmissive MediaTTM)模块,,结合环境测试腔,可以穿透5cm厚的色散材料,可对样品进行加热或者冷却,进行原位测量。
      可选的折叠镜头能够测量碗状样品的侧壁和底部孔洞。
    
    纳米级分辨率的三维表面信息测量
    大家对很多样品的表面性质感兴趣,但是要获得这些品性质,需要检测大量的样品表面定量信息。许多应用在航空航 天,汽车,医疗植入产业的大尺寸样品,往往只能借助于二维接触式检测工具进行表征,获得的只是一条线测量数据。二维扫描能够提供样品的表面轮廓,但是无法深入研究样品表面更精确的纹理细节信息。NPFLEX测试系统采用白光干涉原理,在每一个测量点可以实现表面形貌的三维信息收集,且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针曲率半径的局限,高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果,更多的测量数据来帮助分析样品性质。 快速获取数据,保证测试迅速高效
    NPFLEX三维测量系统,能够灵活高效的获取大量测试数据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间
    本站使用百度智能门户搭建 管理登录
    粤ICP备2024181660号
    服务热线
    服务热线
    18922768881
    微信

    使用微信扫一扫关注