日立UH4150AD+紫外可见近红外分光光度计

创新点

具有紫外可见区8Abs、近红外区7Abs的测光范围 •近红外区 在近红外区配置高灵敏度的 InGaAs 检测器。直入射检测器通过安装集成放大器的检测器实现低噪声，并支持近红外区7Abs的测光范围。 •紫外可见区 紫外可见区沿用了经典型号UH4150，测光范围为８Abs。 另外，UH4150AD+采用了灵敏度更高的光电倍增管，可以依据样品的光学特性灵活选择检测器的切换波长。 凭借紫外可见近红外区宽的测光范围，非常适合评价近红外型光学元件，如自动驾驶等的传感设备LiDAR等光学元件及智能手机摄像头的滤光片、人脸识别滤光片等。 沿用备受好评的经典型号UH4150的光学系统 在测定固体样品的正反射时，入射角很重要。对于聚集光束，入射角会随焦距的变化而变化，从而造成导电多层膜和棱镜等光学薄膜预测值和实际值产生差异。 对于平行光束，所有样品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度测定正反射。另外，平行光束对于扩散性评价（雾度）、镜头透过率测定也是有效的。

产品介绍

本次开发的UH4150AD+（Advanced Spec Plus）是在延续了作为光学元件的光谱特性检测设备UH4150 系列的基础上，提升了其在近红外区域光谱特性测量性能，成为在先端行业很流行的测量光学元件的理想设备。

特点：

具有紫外可见区8Abs、近红外区7Abs的测光范围

✦紫外可见区

紫外可见区UH4150AD+采用了灵敏度更高的光电倍增管，测光范围为８Abs。并且可以依据样品的光学特性灵活选择检测器的切换波长。

✦近红外区

在近红外区域安装了高灵敏度的 InGaAs 探测器。 直射光探测器通过安装集成放大器的探测器实现低噪声，并支持近红外区域7Abs的测光范围。

沿用备受好评的UH4150光学系统

在测定固体样品的正反射时，入射角很重要。对于聚集光束，入射角会随焦距的变化而变化，从而造成导电多层膜和棱镜等光学薄膜预测值和实际值产生差异。

对于平行光束，所有样品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度测定正反射。另外，平行光束也可用于扩散性评价（雾度）、镜头透过率测定。

UH4150AD+增加的使用功能

✦数据模式  ：O.D.（Optical Density）展示

✦多扫描：根据不同的波长范围可进行扫描速度及减光板的设置

✦高分辨率测定：增加细分为4个阶段的高分辨率处理

（模式1）高分辨、中分辨、标准、低分辨

（模式2）ON和OFF (按照之前的处理)

✦减光板：能够自动插入5种规格的减光板

✦检测器校准：在基线校准时通过获取测定波长范围的0%T，

能够提高Abs数据的精度

✦高吸光度校准功能：针对测定数据波动的校准功能

（模式1）负透过率数据校准

（模式2）偏移校准

多功能扫描提高处理能力

由于滤光片包含了高透过率和低透过率的波长范围，使用者一直都是按照低透过率的扫描速度进行全部波长范围的扫描，所以花费时间较长。现在，通过新的多扫描功能，每次的测定可以根据不同的波长范围分别设定扫描速度等测试条件。之前需要15 min的检测通过多扫描功能只需要6.5 min就能完成，大DA缩减了检测时间。

微小样品透过率测定

微小样品透过率测定附件可用于像微型玻璃和摄像镜头等样品的透过率测定。

高吸光度溶液测试

高吸光度滤光片测试